单晶硅片的清洗检验工艺分析
摘要
随着现代信息技术的迅猛发展,作为国民经济重要支柱的半导体工业具有举足轻重的作用,而作为半导体
器件基础材料的单晶硅,其性能的优劣将直接影响器件的性能与可靠性。硅片表面洁净度及缺陷控制是保证半导体
器件高品质制造的重要环节之一,因此,深入开展单晶硅晶圆清洗与检测技术研究,具有重要的理论与实际意义。
器件基础材料的单晶硅,其性能的优劣将直接影响器件的性能与可靠性。硅片表面洁净度及缺陷控制是保证半导体
器件高品质制造的重要环节之一,因此,深入开展单晶硅晶圆清洗与检测技术研究,具有重要的理论与实际意义。
关键词
单晶硅片;清晰检验;工艺分析
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PDF参考
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