基于ZW型柱上断路器的局部放电研究
摘要
本文探讨了12kV箱式柱上断路器局部放电的原因、危害及其处理。通过对某款ZW型柱上开关的局部放电问题的有限元仿真分析与试验验证,本文提出了针对性的优化方案,旨在降低此类产品在运行过程中因局部放电引起的绝缘故障概率,提高绝缘水平和配电可靠性。
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PDF参考
[1]陈芳,荣娜,胡晓.直流电压下局部放电数值模拟方法研究综述[J].绝缘材料,2024,000(4):12.DOI:10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2024.04.001.
[2]李丹,胡海云.基于局部放电理论的聚合物电介质击穿动力学理论研究[J].物理学报,2014(11):6.DOI:10.7498/aps.63.117701.
[3]王永强,邓雅琦,张凤啸.纳米POSS/环氧树脂复合材料电树枝特性受热老化影响的机理[J].高电压技术,2025(7).
[4]成永红,孟国栋,董承业.微纳尺度电气击穿特性和放电规律研究综述[J].电工技术学报,2017,32(2):11.DOI:CNKI:SUN:DGJS.0.2017-02-002.
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