550kV盆式绝缘子沿面放电通道类型的研究

摘要

目前国内GIS制造厂商设计和研发能力日臻成熟完善，各电压等级产品的性能结构也较为稳定。但因作业
环境、装配工艺、作业人员素质以及零部件质量等因素的影响，GIS内部可能会混入金属微粒，从而导致其在出厂或
现场交接试验时发生绝缘击穿的不良现象。因击穿时的能量普遍较大导致金属微粒被烧蚀殆尽，这也给事后的分析
及经验总结增加了困难。面对因为金属微粒引起的绝缘击穿，更多的是针对当前事件的事故分析和原因调查，缺少
试验验证。因此通过开展此项目研究，希望能总结相关规律，为以后的放电原因分析提供分析依据。