面向多架构AI芯片的自动化测试套件设计与实现

摘要

针对多架构AI芯片并行发展的产业现状，适配成本高、软件栈碎片化以及缺乏评价体系是阻碍芯片与模型
协同优化的重要因素。本文聚焦“N×M”适配难题，提出了一种面向多架构AI芯片的自动化测试套件平台化方法，
在抽象统一接口、动态组合测试用例和中立评测基准的基础上，对异构芯片以及多种类型的模型进行快速测试及评
测比较；平台支持任务分配、资源协调和评测总结等功能，并能够生成测评报告，以期为芯片选型、性能优化与产
业协同提供技术参考。