基于线阵CCD的尺寸测量系统研究

叶 郑凯, 薛 海卫
中科芯集成电路有限公司DSP研究室

摘要


随科技发展，人们对尺寸测量的自动化与精度要求渐高，传统方法难满足现代高速高精度测量需求。近年，电荷耦合器件（CCD）作为高效、高速、高精度的非接触测量手段，在工业测量中应用广泛。传统CCD测量系统驱动电路多由数字逻辑电路、单片机、ARM等实现，属多芯片方案，存在系统复杂、可靠性低、成本高的缺点，且受工作速度限制，在复杂时序逻辑下难以良好实现。本文设计了基于CPLD的线阵CCD测量系统，有效解决了上述问题。

关键词


线阵CCD；CPLD驱动；测尺寸

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参考


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